Nordson DAGE Jade Plus X射线检测系统

1. Jade Plus可以独特地检测您的产品品质。

2. 内置尺寸测量工具、BGA空洞分析、凸点直径和圆度以及通孔填充，可快速查找并表征缺陷，帮助您达到IPC-A-610和IPC-7095合规标准。

3. 0.95μm解析度决定了是否能在无源元件中发现微裂纹。

4. 诺信DAGE双倾斜角探测器的独特几何结构是检测缺陷的最快路径，而这些缺陷仅在特定视角下才能看见。

5. 第四代开放管技术非常适合以微米级解析度检测电子样品。

6. Gensys软件专为电子检测而开发，将全面的测量工具和自动化整合到一个可以快速学会的直观点击式平台中，因此您可以更快地获得最大的生产力。

7. QuadraGEN专为Quadra®系列高解析度X射线检测系统而设计，可提供高质量X射线图像所需的功率和稳定性。