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Nordson DAGE Explorer one X射线检测系统

简介: Nordson DAGE Explorer one X射线检测系统1. 独特的集成技术Explorer™ one 在图像链的每个步骤都具有专有技术,从生成和检测X射线到图像增强和测量。每个组件都有一个目的:为电子检测创建最高质量的图像。2. Quadra® X射线管技术高质量的图像从X射线源开始。Explorer one使用QuadraNT®X射线管技术(也适用于我们的Quad...

产品介绍

Nordson DAGE Explorer one X射线检测系统

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1. 独特的集成技术

Explorer™ one 在图像链的每个步骤都具有专有技术,从生成和检测X射线到图像增强和测量。每个组件都有一个目的:为电子检测创建最高质量的图像。

2. Quadra® X射线管技术

高质量的图像从X射线源开始。Explorer one使用QuadraNT®X射线管技术(也适用于我们的Quadra系列X 射线检测工具)在每个功率级提供市场领先的图像质量,而无需维护。

3. 专门设计用于电子器件的检测

能查看小至2μm的产品特性,这种高清细节的检测功能与只是 检测键合是否存在有着很大的区别。专为Explorer one 开发的AspireFP® one平板探测器经过优 化,能在电子样品中实现最高对比度。

4. 显示最精细的细节

超过30种先进的过滤器可以显示最清晰的图像并展示最精细的细节,让您更快地找到特征和缺陷。

5. 一直朝上

绝对不会看错方向。无论您从哪个侧面观察,Explorer one 独特的双轴倾斜观察功能均可使电路板朝上,样品肯定不会旋转。


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